3360 VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 50 MHz 測(cè)試頻率
• 608 個(gè) I/O 通道
• 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
• 平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
• Real Parallel Trim/Match 功能
• 直接裝設(shè) SC312, TS670 針測(cè)卡
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
• Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
• SCAN test 選配 (512M)
• ALPG test 選配供記憶體用
• STDF 工具支援
• 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
• 多樣化的測(cè)試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.